ПО Damaskos MU-EPSLN

 

ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ ИЗМЕРЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК МАТЕРИАЛОВ MU-EPSLN™

ИЗМЕРЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ КОАКСИАЛЬНЫХ ВОЛНОВОДОВ И ВОЛНОВОДОВ TE

Параметр

Тип

Образец

μ и ε

S11 и S21

Произвольное расположение

μ и ε

S11, S21

Закороченный, двойной толщины

μ

S11

Закороченный, тонкий

ε

S11

Разомкнутый, коаксиальный, тонкий

ε, μ = 1

S11

Произвольный импеданс нагрузки

ε, μ = 1

S21

Произвольное расположение

Zs (импеданс листового материала)

S11 или S21

Произвольное расположение

  • Калибровка

                  Типа LRL/TRL
                  С использованием эталонов малых смещений
                  При разомкнутой цепи/при замкнутой цепи/при подключенной нагрузке

  • Полное управление измерительными устройствами
  • Программируемая временная область и временная селекция
  • Windows 2000/XP и Mac OS X 10.2 или выше

 

Программное обеспечение MU-EPSLN™ и производные программные пакеты, работающие в операционной системе Microsoft Windows 2000/XP/Vista и Intel Macintosh OS X, используются для измерения S-параметров (параметров рассеяния) и для вычисления характеристик материалов от ВЧ до частот миллиметрового диапазона. В случае использования этих пакетов вычисляется магнитная проницаемость (µ) и диэлектрическая проницаемость (ε) изотропных материалов, измеряемых с использованием круглых и квадратных коаксиальных резонаторов, либо в любых схемах компании DI, поддерживающих измерение моды типа TEM (поперечная электромагнитная мода), и/или в схемах с волноводами компании DI. Эти программы предоставляют пользователям возможность выполнения калибровки типа TRL/LRL («пропускание-отражение-линия»/«линия-отражение-линия»), калибровки с использованием эталонов нагрузок и калибровки с использованием эталонов малых смещений. Необработанные и обработанные данные могут быть сохранены на диске.

Эти программы предоставляют пользователям гибкие меню и выполняют полное управление измерительными устройствами. Качание в выбранном пользователем частотном диапазоне может выполняться с использованием такого числа шагов изменения частоты, которое поддерживается анализатором. Пользователь может использовать все функциональные возможности сетевого анализатора либо с использованием внешнего контроллера, либо с использованием лицевой панели.

Пользователю предоставляется доступ ко всем необработанным и обработанным данным для выполнения дополнительной и/или специальной обработки данных. Для точной установки образца пользователь может изменять фазу сигнала. Помимо диаграмм Смита (круговых диаграмм полных сопротивлений) и диаграмм Коул-Коула (диаграмм зависимости мнимой составляющей комплексной относительной диэлектрической проницаемости от действительной диэлектрической проницаемости на различных частотах) также выводятся графики S-параметров (амплитуда и фаза), μ, ε и импеданса в прямоугольной системе координат.

Кроме того, может использоваться опция программируемой временной области и временной селекции.

Предоставляются драйверы для использования анализаторов серий ZVA, ZVB, ZVC и ZVK компании Rohde&Schwarz. Это программное обеспечение может использоваться на персональных компьютерах, совместимых с ПК IBM, или на компьютерах Intel Macintosh с операционной системой OS X (10.5 или выше). Также требуется интерфейс GPIB компании National Instruments Corp. Этот интерфейс может быть предоставлен компанией DI (Damaskos, Inc.).

 

Задать вопрос

Ваше Имя: 
Указанное Вами имя не будет публиковаться на сайте - оно необходимо исключительно для корректного обращения к Вам в письмах.
Организация: 
Должность: 
Телефон: 
Телефонный номер в формате +7 ххх ххх-хх-хх
Ваш E-mail: 
Пожалуйста, указывайте действующий e-mail
Подробности Вашего вопроса
Пожалуйста, укажите здесь числовой код

Свяжитесь с нами

ООО «АнтЭМС Групп»

115088, г. Москва
ул. Угрешская дом 12, стр.1

+7 (495) 763-90-04

info@antemc.ru

Яндекс.Метрика
+7 (495) 763-90-04