ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ ИЗМЕРЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК МАТЕРИАЛОВ MU-EPSLN™
| Параметр | Тип | Образец |
|---|---|---|
|
μ и ε |
S11 и S21 |
Произвольное расположение |
|
μ и ε |
S11, S21 |
Закороченный, двойной толщины |
|
μ |
S11 |
Закороченный, тонкий |
|
ε |
S11 |
Разомкнутый, коаксиальный, тонкий |
|
ε, μ = 1 |
S11 |
Произвольный импеданс нагрузки |
|
ε, μ = 1 |
S21 |
Произвольное расположение |
|
Zs (импеданс листового материала) |
S11 или S21 |
Произвольное расположение |
- Калибровка
- Типа LRL/TRL
- С использованием эталонов малых смещений
- При разомкнутой цепи/при замкнутой цепи/при подключенной нагрузке
- Полное управление измерительными устройствами
- Программируемая временная область и временная селекция
- Windows 2000/XP и Mac OS X 10.2 или выше
Программное обеспечение MU-EPSLN™ и производные программные пакеты, работающие в операционной системе Microsoft Windows 2000/XP/Vista и Intel Macintosh OS X, используются для измерения S-параметров (параметров рассеяния) и для вычисления характеристик материалов от ВЧ до частот миллиметрового диапазона. В случае использования этих пакетов вычисляется магнитная проницаемость (µ) и диэлектрическая проницаемость (ε) изотропных материалов, измеряемых с использованием круглых и квадратных коаксиальных резонаторов, либо в любых схемах компании DI, поддерживающих измерение моды типа TEM (поперечная электромагнитная мода), и/или в схемах с волноводами компании DI. Эти программы предоставляют пользователям возможность выполнения калибровки типа TRL/LRL («пропускание-отражение-линия»/«линия-отражение-линия»), калибровки с использованием эталонов нагрузок и калибровки с использованием эталонов малых смещений. Необработанные и обработанные данные могут быть сохранены на диске.
Эти программы предоставляют пользователям гибкие меню и выполняют полное управление измерительными устройствами. Качание в выбранном пользователем частотном диапазоне может выполняться с использованием такого числа шагов изменения частоты, которое поддерживается анализатором. Пользователь может использовать все функциональные возможности сетевого анализатора либо с использованием внешнего контроллера, либо с использованием лицевой панели.
Пользователю предоставляется доступ ко всем необработанным и обработанным данным для выполнения дополнительной и/или специальной обработки данных. Для точной установки образца пользователь может изменять фазу сигнала. Помимо диаграмм Смита (круговых диаграмм полных сопротивлений) и диаграмм Коул-Коула (диаграмм зависимости мнимой составляющей комплексной относительной диэлектрической проницаемости от действительной диэлектрической проницаемости на различных частотах) также выводятся графики S-параметров (амплитуда и фаза), μ, ε и импеданса в прямоугольной системе координат.
Кроме того, может использоваться опция программируемой временной области и временной селекции.
Предоставляются драйверы для использования анализаторов серий ZVA, ZVB, ZVC и ZVK компании Rohde&Schwarz. Это программное обеспечение может использоваться на персональных компьютерах, совместимых с ПК IBM, или на компьютерах Intel Macintosh с операционной системой OS X (10.5 или выше). Также требуется интерфейс GPIB компании National Instruments Corp. Этот интерфейс может быть предоставлен компанией DI (Damaskos, Inc.).